目前，國內現(xiàn)有模擬電路實驗平臺均為較簡單的模擬單元電路，如單管放大器(共射、共基)、負反饋放大器、集成運算放大器基本運算電路、場效應管電路、OTL功率放大器等較為簡單的模擬電路單元。

普通單管放大器不能同時對輸入輸出電阻進行匹配，導致放大電路的帶寬受限；負反饋放大器的電流補償電路要消耗一定的功率，并且容易受到溫度等外界條件的影響，容易產生自激，從而導致放大倍數(shù)受限；場效應管電路采用電壓控制元件，它的放大倍數(shù)小，一級放大只能做到幾倍，并且輸入端由于靜電感應容易擊穿。OTL功率放大器輸出端采用大容量電解電容，體積龐大，笨重，消耗有色金屬，且效率較低，低頻和高頻特性均較差。這些實驗項目，學生在做實驗的過程當中發(fā)現(xiàn)實驗結果差，并且有些較復雜的實驗項目根本無法開出?，F(xiàn)市場上出售的模擬電子技術實驗裝置，雖然運用了先進技術，但價格昂貴，并且改裝、升級不方便，并且用于學生開展創(chuàng)新訓練、各類學科競賽常用的新型模擬器件，如高速運放、

高精度運放、濾波器、高速AD／DA，可控增益放大器等，縱觀國內的模擬電路實驗箱此類資源卻較為貧乏。

本實驗箱利用TI公司的芯片，研制出一種高性能的模擬電路實驗箱，該實驗箱既能模擬電子技術基礎實驗的需要，提高當代大學生模擬技術水平，掌握模擬信號的實際調試情況，又可以作為綜合設計型實驗教學，為學生進行電子競技比賽提供開發(fā)平臺，提高大學生電子競技能力，奠定未來工程師道路。

1．總體設計方案

高性能模擬電路實驗箱總體設計框圖如圖1所示。其中包括低頻放大器模塊、有源濾波器模塊、可控電流源模塊、高速放大器模塊、高速緩沖器模塊、AGC+VCA模塊、串行DAC

模塊、、并行DAC模塊、并行ADC模塊、單片機控制模塊、FPGA控制模塊。這些模塊均可以獨立開設相對應的實驗項目。

2．部分單元電路功能子模塊

2．1信號檢測功能的實現(xiàn)

信號檢測功能的實現(xiàn)框圖如圖2所示，其中低頻放大器模塊和串行ADC模塊依次連接，輸入信號經(jīng)過信號放大，再經(jīng)過同相比例運算處理后，從ADS805芯片輸出，zui終實現(xiàn)信號檢測。

應用TI公司的雙電源運算放大器TL082芯片作為前級放大，放大電路可以實現(xiàn)雙電源放大、直流耦合反向放大、交流耦合反向放大、直流耦合同向放大、交流耦合同向放大，采用TI公司

的儀表放大器INA128實現(xiàn)差分放大器。

圖1總體設計框圖

圖2信號檢測功能框圖

低頻放大器模塊包括雙電源放大器、單電源放大器1、單電源放大器2和差分放大器四部分。雙電源放大器部分，正電源接+l2v電壓，負電源接．12V電壓，包含一路信號輸入和一路信號

輸出。單電源放大器1是反向放大器包含直流耦合型和交流耦合型，兩種都設有輸入端和輸出端。單電源放大器2是同向放大器包含直流耦合型和交流耦合型，兩種都包含一路信號輸入和一路信號輸出。差分放大器包含兩路信號輸入和一路信號輸出。

2．2 自動增益測試功能的實現(xiàn)

自動增益測試功能的實現(xiàn)框圖如圖3所示，高速放大器模塊、高速緩沖器模塊、AGC+VCA模塊依次連接，可以實現(xiàn)自動增益測試。

圖3自動增益測試功能框圖

高速放大器模塊包括電壓反饋同相電路、電壓反饋反相電路、電流反饋同相電路和電流反饋同相電路，所有的電路均設有輸入端和輸出端。

2．3函數(shù)信號發(fā)生器功能的實現(xiàn)

函數(shù)信號發(fā)生器的實現(xiàn)框圖如圖4所示，F(xiàn)PGA模塊、并行DAC模塊和高速放大器模塊依次連接，實現(xiàn)函數(shù)信號發(fā)生器。

圖4函數(shù)信號發(fā)生器功能框圖

AGC+VCA模塊包括單元電路供電模塊、自動增益控制(AGC)電路和可控增益放大器(VCA)，單元電路供電模塊分別與自動增益控制(AGC)電路和可控增益放大器(VCA)相連接，為各

模塊提供電源。
3．設計特點和技術指標

設計特點：

(1)配套性強，實驗箱可以完成模擬電子電路的多項實驗；

(2)可靠性高，實驗插口座的固定由螺絲擰緊式改為焊接式，克服實驗插孔座松動的現(xiàn)象：

(3)直觀性強，面板示意圖線分明，布置合理，插接方便，有利學生獨食操作實驗，提高實際動手能力。

技術指標：

(1)輸入電源：雙電源正負12V；

(2)信號采集：輸入信號頻率1Hz～5MHz，交流信號波形；

(3)自動增益控制：輸入信號頻率lⅢz~8Ⅷz，幅度lmV-5VPP，控制輸出幅度固定輸出1VPP；

(4)函數(shù)信號源：頻率范圍1Hz~10MHz，幅值0～5 VPP：

(5)工作環(huán)境：溫度-10攝氏度-+50攝氏度。

高性能模擬電路實驗平臺已經(jīng)研制成功，并已經(jīng)開始投入使用。其既可以為不同層次的學生提供綜合性、設計性的實驗環(huán)境，為大學生電子設計大賽提供軟硬件資源，也可以為教師開發(fā)新的實驗項目提供有力條件。